Le biais technologique : fondements, mesures et tests empiriques - HAL Accéder directement au contenu
Article dans une revue Revue Française d'Economie Année : 1999

Le biais technologique : fondements, mesures et tests empiriques

Mots clés

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Dates et versions

halshs-00144027, version 1 (30-04-2007)

Identifiants

  • HAL Id : halshs-00144027 , version 1

Citer

Nathalie Greenan, Bouabdallah Khaled, Marie Claire Villeval. Le biais technologique : fondements, mesures et tests empiriques. Revue Française d'Economie, 1999, 14 (1), pp.171-227. ⟨halshs-00144027⟩
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Dernière date de mise à jour le 06/04/2024
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