Modeling the Reliability of Digital Operators - HAL Accéder directement au contenu
Rapport Année : 2009

Modeling the Reliability of Digital Operators

Modélisation de la Fiabilité des Opérateurs Numériques

Résumé

L’évolution régulière des finesses de gravure en microéléctronique (loi de Moore) joue un role fondamental dans le dévelopement économiques depuis une cinquantaine d’années. Cependant, les technologies décananométriques conduisent désormais à des rendements nettement inférieurs à ceux obtenus avec les générations précédentes du fait de la proximité des limites physiques. Cette baisse de rendement et une variabilité paramétrique fortement accrue entrainent une moindre fiabilité des systèmes conçus pourtant fondamentale pour de nombreuses applications (médical, transports, spatial, etc...). De tels inconvénients seront également présents dans de futures nanotechnologies alternatives ou complémentaires. Ce stage porte sur la modélisation de la fiabilité d’opérateurs numériques.
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Dates et versions

halshs-01614271, version 1 (10-10-2017)

Identifiants

  • HAL Id : halshs-01614271 , version 1

Citer

Hicham Ezzat. Modeling the Reliability of Digital Operators. [Internship report] Telecom Paristech; Université Française d'Egypte; UPMC - Paris 6 Sorbonne Universités. 2009. ⟨halshs-01614271⟩
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Dernière date de mise à jour le 28/04/2024
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